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日立X射线荧光膜厚测量仪(FT)
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X射线荧光镀层厚度测量仪FT9200

发布时间:2019-04-10 16:27:50  浏览次数:

产品说明

品名:X射线荧光镀层厚度测量仪FT9200
型号:FT9200系列
概要:是利用荧光X射线原理的镀膜厚度测量计。SFT系列是本公司标准机型。有适用小型部件的SFT9200、有适用大型印刷基板的SFT9255。防止样品和仪器装备结构不吻合的功能是本系列的标准装备。
特长
FT3000系列的后续机型。
1.依据照明,可以看到以前观察困难的样品。
2.搭载了防止有凹凸的样品碰撞的传感器。
3.运用激光聚焦功能简单实现位置的调整。
4.微小领域的观察也很容易。搭载了能4阶段切换的可变焦距透镜。(任选)
5.搭载了焦点切换功能,能够对有高度的样品的低部分进行测定。(任选)
规格
型号FT9200系列
射线源空冷式小型X射线管
准直器型0.2x0.05mm、0.05x0.2mm
0.1mm,0.2mm、0.3mmφ
样品观察CCD照相机
过滤器Co:自动切换
样品平台移动量:220(X)x150(Y)x150(Z)mm
X-rayStation电脑(Windows2000®)17英寸CRT

 


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