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X射线荧光镀层厚度测量仪

发布时间:2019-04-10 17:19:08  浏览次数:

产品说明

品名:X射线荧光镀层厚度测量仪
型号:SFT-110 
概要:1.即放即测!2.10秒钟完成50nm的极薄金镀层测量!3.可无标样测量!4.通过样品整体图像更方便选择测量位置! 
特长 
SFT-110的主要特征] 
1. 通过自动定位功能提高操作性 测量样品时,以往需花费约10秒的样品对焦,现在3秒内即可完成,大大提高样品定位的操作性。 
2. 微区膜厚测量精度提高 通过缩小与样品间的距离等,致使在微小准直器(0.1、0.2mm)下,也能够大幅度提高膜厚测量的精度。 
3. 多达5层的多镀层测量 使用薄膜FP法软件,即使没有厚度标准片也可进行多达5层10元素的多镀层测量。 
4. 广域观察系统(选配)可从最大250×200mm的样品整体图像指定测量位置。 
5. 对应大型印刷线路板(选配) 可对600×600mm的大型印刷线路板进行测量。 
6. 低价位 与以往机型相比,既提高了功能性又降低20%以上的价格。

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